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OLED 壽命週期測試系統 Model 58131

更新时间:2017-11-13

简要描述:

OLED 壽命週期測試系統 Model 58131

主要特色:
獨立且精密的量測方式(PMU)
•提供高精確度的電壓及電流
•高精確度的量測能力
•單一待測物故障自我控制,不影響其他測試中的待測物

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OLED 壽命週期測試系統 Model 58131

 

主要特色:

獨立且精密的量測方式(PMU)

  • 提供高精確度的電壓及電流
  • 高精確度的量測能力
  • 單一待測物故障自我控制,不影響其他測試中的待測物

測試功能

  • 電氣特性量測
  • 亮度量測
  • 自行設計輸出模式(正負電壓及電流)

自動測試及資料載入

  • PXI機箱含嵌入式控制器
  • OLED測試卡 (一張PXI卡可測試兩個OLED面板)
  • 每個系統zui大可提供34組待測物

選購配備

  • 頻譜分析量測光學特性
  • Turnkey 測試解決方案
  • 客制化的測試治具(可接受不同尺寸的OLED面板)
  • 部分機架可置入滑動抽屜(每個抽屜有四組治具)

58131是專針對OLED壽命試驗所設計的測試系統,58131可作電氣特性的量測,如正負電壓、電流的供給及量測、亮度的量測及自動量測OLED亮度壽命時間,並可選購頻譜分析卡,量測光學特性的功能。58131採用PRECISION SOURCE-AND-MEASURE UNITS "PMU"的量測方式,此種系統架構,在任何待測物發生短路或開路時,並不會影響其他待測物之量測或造成系統的任何損毀,每張PXI卡片可提供兩組獨立且精密的電壓、電流輸出及量測功能,僅需增加PXI卡片即可立即增加量測組數。

本系統以開放式的PXI架構為硬體基礎,可任意擴充測試組數,PXI系統具有先進的 "Hot plug & play"功能,即當測試中的某一待測物發生短路或故障時,僅需移除發生故障之待測物,不影響其他測試中之待測物,系統仍可持續測試,此功能將是PXI架構之zui大優點,可大量提升測試效能。

人性化的軟體介面,可自行設計電源輸出模式、電源參數值、量測時間、亮度校正等項目,並有曲線繪圖、資料表顯示及儲存,讓您可輕鬆分析測試報告。另外,測試治具的設計,便利的19吋機架,可隨意移動測試環境,精密輕巧的測試盒,可輕鬆替換待測物,電腦主機及螢幕組裝於機架上,以隨時了解測試狀況,18個插槽的PXI機箱,可同時檢測34組待測物,讓你擁有體積zui小,待測模組zui多的超迷你測試系統。

58131 PXI OLED Lifetime Test System 為精巧型的測試系統,提供了的量測能力,並採用 "PMU"量測方式,及易於操作的人性化介面,為*的OLED 壽命週期測試解決方案。

硬體架構 li>8/14/18槽PXI機箱 li>52941 533MHz/ 52942 800MHz嵌入式控制器 li>52951 電源量測卡 li>選購19"機架 li>選購 LCD Monitor li>選購滑鼠及鍵盤

軟體操作介面 測試系統提供了Window操作介面,便利的架構可輕易控制電氣及亮度測試 li>選擇多種電源輸出模式 li>測試中可顯示曲線圖及資料表 li>同時監控34組待測物 li>具有亮度校正功能 li>亮度達到LIFE TIME時,自動停止測試

客制化的測試治具 li>每個機箱配合 34 組 OLED 測試治具 li>客制化的測試治具,搭配不同待測物,讓操作更加便利

校正 li>獨立校正每個模組

 

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